Resum

L'obtenció d'imatges directes i localitzades de textures magnètiques a escala nanomètrica és essencial per al desenvolupament de dispositius electrònics i espintrònics avançats, on el control precís de les propietats magnètiques és crucial. L'obtenció d'imatges de contrast magnètic mitjançant un microscopi electrònic de transmissió (S)TEM (per les sigles en anglès), conegut com a microscopia de Lorentz, permet la visualització d'alta resolució de textures magnètiques i la seva dinàmica, cosa que proporciona informació valuosa sobre la seva nucleació, manipulació i evolució.

En el mode Lorentz, la lent de l'objectiu del microscopi està apagada, fet que crea un entorn sense camp magnètic. Això és essencial per observar l'estructura magnètica intrínseca de la mostra sense interferències externes. En ajustar el corrent a la lent de l'objectiu, es poden aplicar camps magnètics controlats a la mostra, cosa que permet la manipulació de textures magnètiques. Quan es combina amb un suport de TEM in situ, aquesta configuració permet l'observació en temps real de com les textures magnètiques responen a estímuls externs, com ara variacions de temperatura, voltatge de polarització aplicat o corrent.

Aquesta presentació presentarà tècniques d'obtenció d'imatges de contrast magnètic basades en (S)TEM, amb un enfocament al TEM de Lorentz in situ. Se'n discutiran les aplicacions, se n'exploraran els avantatges i les limitacions en l'obtenció d'imatges i l'estudi de textures magnètiques.