Resumen

La microscopía de rayos X ofrece un enfoque complementario no destructivo a la microscopía electrónica. Sin embargo, lograr imágenes de rayos X de alta resolución es un desafío debido a la dificultad de fabricar lentes de rayos X con suficiente calidad y eficiencia, especialmente para rayos X duros, es decir, a energías de fotones superiores a aproximadamente 2 keV. Los métodos como la microscopía de rayos X de campo completo utilizan lentes colocadas después de la muestra, lo que significa que la mayoría de los rayos X que pasan a través de la muestra se desperdician en el proceso de obtención de imágenes. Esto motiva el desarrollo de métodos más eficientes en cuanto a dosis, como la nanoholotomografía de rayos X (XNH), la obtención de imágenes por difracción de rayos X coherente (CDI) o la pticografía de rayos X, donde no hay lentes entre la muestra y el detector, y por lo tanto el proceso de obtención de imágenes puede ser en principio más eficiente. Sin embargo, la realización experimental de estas técnicas puede ser un desafío por diferentes razones: en XNH la resolución está limitada por lo pequeño que puede ser el haz enfocado antes de la muestra, en CDI la convergencia del algoritmo para recuperar la muestra es problemática y en pticografía necesitamos escanear la muestra con alta precisión para que sea competitiva. En mi presentación, daré una visión general de estas técnicas con sus pros y contras. Esto aclarará en qué casos tiene sentido usar qué técnicas y cómo deben construirse las líneas de luz para explotar cada una de ellas de manera óptima.